検査・分析

ICP発光分析

目的 低濃度から高濃度までの無機元素分析
特徴 固体試料も溶解して液体試料として分析が可能
用途 ・無機元素の定性/定量分析
・液体/固体試料の多元素定性分析
・ターゲット材料中元素の成分分析
・微量元素の分析
原理 高周波誘導結合プラズマ(Inductively Coupled Plasma)を生成し、その中に液体試料を霧化して導入し、試料中の元素がフリーの原子まで分解されます。さらにその原子を励起状態にさせ発生される光を計測します。その光を波長から定性分析、強度から定量分析を行います。

蛍光X線分析

目的 微量元素・軽元素の高感度分析
特徴 試料を非破壊で迅速に分析できる
用途 ・無機異物の定性/定量分析
・材料や土壌などの有害金属の測定
・電子機器に含まれる有害元素を分析
・試料を構成する元素の種類や含有量を分析
原理 試料にX線を照射して発生する蛍光X線の波長と強度を測定することで、試料中に含まれる元素の種類や含有量を調べます。

X線回折

目的 結晶構造の解析:結晶中の原子の配置構造を見る
特徴 試料の状態や測定目的に応じた手法が多数ある
用途 ・結晶粒の大きさの測定
・結晶性・配向性評価
・結晶に掛かる残留応力の評価
・結晶構造変化測定
原理 試料の結晶にX線を照射し、その際結晶中の各原子によりX線が散乱、干渉した結果起こる回折を解析します。

超音波探傷検査

目的 ボンディング状態の品質管理
特徴 非破壊で欠陥の位置・形状が明確に判断できる
用途 ・材料内部の割れや傷の検査
・溶接部の検査
・接着/剥離検査
・厚さの測定
原理 ターゲット又はバッキングプレートに探触子と呼ばれるプローブを接触させ、
ターゲットの表面をスイープさせて接合面からの反射エコーを計測し欠陥を探傷します。
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